Ders Bilgi Formu ( MBM 613 )
|
|
Temel bilgiler
|
|
| Ders adı: |
Malzemelerin Karakterizasyon Teknikleri |
| Ders kodu: |
MBM 613 |
| Öğretim üyesi: |
Prof. Dr. Hüseyin YILMAZ
|
| AKTS kredisi: |
7.5 |
| GTÜ kredisi: |
3 (3+0+0) |
| Yılı, Dönemi: |
1/1, Güz ve Bahar |
| Dersin düzeyi: |
Yüksek lisans |
| Dersin tipi: |
Alan seçmeli
|
| Öğretim dili: |
İngilizce
|
| Öğretim şekli: |
Yüz yüze
|
| Ön koşullar: |
Yok |
| Staj durumu: |
Yok |
| Dersin amacı: |
Metaller, seramikler, polimerler, yarıiletkenler ve kompozitler nasıl karakteize edilirler. |
|
|
|
Öğrenme çıktıları
|
|
Bu dersi başarıyla tamamlayan öğrenciler, şu yetilere sahip olurlar:
-
Yüzeyler, arayüzeyler ve ince film karakterizasyon tekniklerini anlatmak
Program Çıktılarına Katkıları
-
İleri düzey Malzeme Bilimi ve Mühendisliği kavramlarını tanımlamak ve uygulamak
-
Malzeme bilimi ve mühendisliği alanındaki modern yöntem ve araçları kullanmak
-
Bilimsel bilgiye ulaşmak
Değerlendirme Tipi
-
Yazılı sınav
-
Metaller, seramikler, polimerler, yarıiletkenler ve kompozitler karakterize eder.
Program Çıktılarına Katkıları
-
İleri düzey Malzeme Bilimi ve Mühendisliği kavramlarını tanımlamak ve uygulamak
-
Gelişmiş mühendislik problemlerini formüle edip çözmek
-
Malzeme bilimi ve mühendisliği alanındaki modern yöntem ve araçları kullanmak
-
Bilimsel bilgiye ulaşmak
Değerlendirme Tipi
-
Laboratuvar uygulamaları/sınavları
-
Üretim süreçleri, mikroyapı, özellik ve performans ilişkisini ve bagımlılığını kurar
Program Çıktılarına Katkıları
-
İleri düzey Malzeme Bilimi ve Mühendisliği kavramlarını tanımlamak ve uygulamak
-
Gelişmiş mühendislik problemlerini formüle edip çözmek
-
Malzeme bilimi ve mühendisliği alanındaki modern yöntem ve araçları kullanmak
-
Bilimsel bilgiye ulaşmak
Değerlendirme Tipi
-
Yazılı sınav
|
|
|
İçerik
|
|
| 1. hafta: |
Yüzey analizinde kontak açısı |
| 2. hafta: |
X-ray Photoelectron Spectroscopy and Auger Electron Spectroscopy |
| 3. hafta: |
Taramalı Tünel Mikroskobu |
| 4. hafta: |
Atomik Kuvvet Mikroskobu |
| 5. hafta: |
X-ışını kırınımı |
| 6. hafta: |
X-ışını kırınımı |
| 7. hafta: |
Geçirgenli Elektron Mikroskobu |
| 8. hafta: |
Vize |
| 9. hafta: |
Geçirgenli Elektron Mikroskobu |
| 10. hafta: |
Taramalı Elektron Mikroskobu |
| 11. hafta: |
Taramalı Elektron Mikroskobu |
| 12. hafta: |
Infrared Spectroscopy and UV/Vis Spectroscopy |
| 13. hafta: |
Infrared Spectroscopy and UV/Vis Spectroscopy |
| 14. hafta: |
Macro and Micro Thermal Analyses |
| 15. hafta*: |
Macro and Micro Thermal Analyses |
| 16. hafta*: |
Final sınavı |
| Ders kitapları ve materyaller: |
Materials Characterization Techniques, Lin Li, Ashok Kumar, CRC Press, 2008 |
| Önerilen kaynaklar: |
Encyclopedia of Materials Characterization: Surfaces, Interfaces, Thin Films (Materials Characterization Series), C. R. Brundle, Charles A. Evans, Shaun Wilson, Butterworth-Heinemann, 1992 |
|
|
* 15. ve 16. haftalar arası final sınavına hazırlık haftası bulunmaktadır.
|
|
|
|
|
Değerlendirme
|
|
|
| Değerlendirme tipi |
Hafta numarası |
Ağırlık (%) |
|
| Ara sınavlar (Vizeler): |
8 |
40 |
| Dönem içi diğer çalışmalar: |
|
0 |
| Proje: |
|
0 |
| Ödev: |
|
0 |
| Kısa sınav (Quiz): |
|
0 |
| Final sınavı: |
16 |
60 |
| |
Toplam ağırlık: |
(%) |
|
|
|
|
İş yükü
|
|
|
| Etkinlik |
Süre (Haftalık saat) |
Toplam hafta sayısı |
Dönem boyu toplam iş yükü |
|
| Dersler (Yüz yüze öğretme): |
3 |
14 |
|
| Ders dışı bireysel çalışma: |
3 |
14 |
|
| Uygulama, Rehberli problem çözme: |
0 |
0 |
|
| Ödev: |
6 |
10 |
|
| Dönem projesi: |
0 |
0 |
|
| Dönem projesi sunumu: |
0 |
0 |
|
| Kısa sınav (Quiz): |
0 |
0 |
|
| Ara sınav için bireysel çalışma: |
15 |
1 |
|
| Ara sınav (Vize): |
1 |
1 |
|
| Final sınavı için bireysel çalışma: |
10 |
2 |
|
| Final sınavı: |
2 |
1 |
|
| |
|
Toplam işyükü: |
|
| |
|
Toplam AKTS kredisi: |
* |
|
|
* AKTS kredisi, toplam iş yükünün 25'e bölümüdür. (1 AKTS = 25 saatlik iş yükü)
|
|
|
-->
