ECTS @ IUE ECTS @ IUE ECTS @ IUE ECTS @ IUE ECTS @ IUE ECTS @ IUE ECTS @ IUE

Ders Bilgi Formu ( MBM 519 )

   Temel bilgiler
Ders adı: Elektron Mikroskobu
Ders kodu: MBM 519
Öğretim üyesi: Prof. Dr. Ahmet Yavuz ORAL
AKTS kredisi: 7.5
GTÜ kredisi: 3 (3+0+0)
Yılı, Dönemi: 1/2, Güz ve Bahar
Dersin düzeyi: Yüksek lisans
Dersin tipi: Alan seçmeli
Öğretim dili: İngilizce
Öğretim şekli: Yüz yüze
Ön koşullar: Yok
Staj durumu: Yok
Dersin amacı: Bu derste optik ve taramalı elektron mikroskobunun temel prensipleri ve teknikleri açıklanacak öğrenilen teknikler tüm öğrencilere elektron mikroskobu laboratuvarında uygulatılarak Taramalı elektron mikroskobu kullanımında yetkin olmaları sağlanacaktır.
   Öğrenme çıktıları Yukarı

Bu dersi başarıyla tamamlayan öğrenciler, şu yetilere sahip olurlar:

  1. Genel EM teknikleri ve güncel kullanıldığı alanları sıralar

    Program Çıktılarına Katkıları

    1. İleri düzey Malzeme Bilimi ve Mühendisliği kavramlarını tanımlamak ve uygulamak
    2. Gelişmiş mühendislik problemlerini formüle edip çözmek
    3. Bağımsız olarak araştırma projelerini tasarlamak ve yürütmek
    4. Modern teknolojiyle sürekli öğrenme bilinci geliştirmek

    Değerlendirme Tipi

    1. Yazılı sınav
  2. Araştırmalarında mikroyapıları yorumlama tekniklerini kavramalarında kolaylık sağlayacak aletleri kullanarak pratik yapar

    Program Çıktılarına Katkıları

    1. İleri düzey Malzeme Bilimi ve Mühendisliği kavramlarını tanımlamak ve uygulamak
    2. Gelişmiş mühendislik problemlerini formüle edip çözmek
    3. Bağımsız olarak araştırma projelerini tasarlamak ve yürütmek

    Değerlendirme Tipi

    1. Laboratuvar uygulamaları/sınavları
  3. Mikroskopları yetkili kullanıcı olarak kullanabilecek şekilde pratik tecrübelerini geliştirirler.

    Program Çıktılarına Katkıları

    1. İleri düzey Malzeme Bilimi ve Mühendisliği kavramlarını tanımlamak ve uygulamak
    2. Gelişmiş mühendislik problemlerini formüle edip çözmek
    3. Bağımsız olarak araştırma projelerini tasarlamak ve yürütmek

    Değerlendirme Tipi

    1. Laboratuvar uygulamaları/sınavları
   İçerik Yukarı
1. hafta: Genel Optik bilgileri
2. hafta: Elektron tabancası
3. hafta: Lensler
4. hafta: Electron Optiği
5. hafta: Numune elektron etkileşimleri
6. hafta: Lab I-Giriş ve numune yükleme
7. hafta: Detektorler
8. hafta: Lab II-Numune kaplama
9. hafta: Geri saçılımlı elektronlar ile görüntüleme
10. hafta: Lab III- odaklama ve astimat giderme
11. hafta: Enerji dağılımlı spektroskopi
12. hafta: LabVI-Parlaklık ve karşıtlık ayarlama ve görüntü optimizasyonu
13. hafta: Görüntü işleme
14. hafta: Lab VI-Kendi dönem projesinde çalışma
15. hafta*: Lab Final Sınavı
16. hafta*: Yazılı Final Sınavı
Ders kitapları ve materyaller: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis [Hardcover]
Joseph Goldstein , Dale E. Newbury , David C. Joy , Charles E. Lyman , Patrick Echlin , Eric Lifshin, Linda Sawyer, J.R. Michael
Springer Science 2003
Önerilen kaynaklar: Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM21 Jul 2018
by R.F. Egerton
  * 15. ve 16. haftalar arası final sınavına hazırlık haftası bulunmaktadır.
Değerlendirme Yukarı
Değerlendirme tipi Hafta numarası Ağırlık (%)
Ara sınavlar (Vizeler): 0
Dönem içi diğer çalışmalar: 5-14 10
Proje: 0
Ödev: 3,5,7,9,11 20
Kısa sınav (Quiz): 2-12 30
Final sınavı: 16 40
  Toplam ağırlık:
(%)
   İş yükü Yukarı
Etkinlik Süre (Haftalık saat) Toplam hafta sayısı Dönem boyu toplam iş yükü
Dersler (Yüz yüze öğretme): 3 14
Ders dışı bireysel çalışma: 3 14
Uygulama, Rehberli problem çözme: 3 2
Ödev: 3 5
Dönem projesi: 0 0
Dönem projesi sunumu: 5 1
Kısa sınav (Quiz): 2 11
Ara sınav için bireysel çalışma: 0 0
Ara sınav (Vize): 0 0
Final sınavı için bireysel çalışma: 18 3
Final sınavı: 2 1
    Toplam işyükü:
    Toplam AKTS kredisi:
*
  * AKTS kredisi, toplam iş yükünün 25'e bölümüdür. (1 AKTS = 25 saatlik iş yükü)
-->