Ders Bilgi Formu ( MBM 519 )
|
Temel bilgiler
|
|
Ders adı: |
Elektron Mikroskobu |
Ders kodu: |
MBM 519 |
Öğretim üyesi: |
Prof. Dr. Ahmet Yavuz ORAL
|
AKTS kredisi: |
7.5 |
GTÜ kredisi: |
3 (3+0+0) |
Yılı, Dönemi: |
1/2, Güz ve Bahar |
Dersin düzeyi: |
Yüksek lisans |
Dersin tipi: |
Alan seçmeli
|
Öğretim dili: |
İngilizce
|
Öğretim şekli: |
Yüz yüze
|
Ön koşullar: |
Yok |
Staj durumu: |
Yok |
Dersin amacı: |
Bu derste optik ve taramalı elektron mikroskobunun temel prensipleri ve teknikleri açıklanacak öğrenilen teknikler tüm öğrencilere elektron mikroskobu laboratuvarında uygulatılarak Taramalı elektron mikroskobu kullanımında yetkin olmaları sağlanacaktır. |
|
|
|
Öğrenme çıktıları
|
|
Bu dersi başarıyla tamamlayan öğrenciler, şu yetilere sahip olurlar:
-
Genel EM teknikleri ve güncel kullanıldığı alanları sıralar
Program Çıktılarına Katkıları
-
İleri düzey Malzeme Bilimi ve Mühendisliği kavramlarını tanımlamak ve uygulamak
-
Gelişmiş mühendislik problemlerini formüle edip çözmek
-
Bağımsız olarak araştırma projelerini tasarlamak ve yürütmek
-
Modern teknolojiyle sürekli öğrenme bilinci geliştirmek
Değerlendirme Tipi
-
Yazılı sınav
-
Araştırmalarında mikroyapıları yorumlama tekniklerini kavramalarında kolaylık sağlayacak aletleri kullanarak pratik yapar
Program Çıktılarına Katkıları
-
İleri düzey Malzeme Bilimi ve Mühendisliği kavramlarını tanımlamak ve uygulamak
-
Gelişmiş mühendislik problemlerini formüle edip çözmek
-
Bağımsız olarak araştırma projelerini tasarlamak ve yürütmek
Değerlendirme Tipi
-
Laboratuvar uygulamaları/sınavları
-
Mikroskopları yetkili kullanıcı olarak kullanabilecek şekilde pratik tecrübelerini geliştirirler.
Program Çıktılarına Katkıları
-
İleri düzey Malzeme Bilimi ve Mühendisliği kavramlarını tanımlamak ve uygulamak
-
Gelişmiş mühendislik problemlerini formüle edip çözmek
-
Bağımsız olarak araştırma projelerini tasarlamak ve yürütmek
Değerlendirme Tipi
-
Laboratuvar uygulamaları/sınavları
|
|
İçerik
|
|
1. hafta: |
Genel Optik bilgileri |
2. hafta: |
Elektron tabancası |
3. hafta: |
Lensler |
4. hafta: |
Electron Optiği |
5. hafta: |
Numune elektron etkileşimleri |
6. hafta: |
Lab I-Giriş ve numune yükleme |
7. hafta: |
Detektorler |
8. hafta: |
Lab II-Numune kaplama |
9. hafta: |
Geri saçılımlı elektronlar ile görüntüleme |
10. hafta: |
Lab III- odaklama ve astimat giderme |
11. hafta: |
Enerji dağılımlı spektroskopi |
12. hafta: |
LabVI-Parlaklık ve karşıtlık ayarlama ve görüntü optimizasyonu |
13. hafta: |
Görüntü işleme |
14. hafta: |
Lab VI-Kendi dönem projesinde çalışma |
15. hafta*: |
Lab Final Sınavı |
16. hafta*: |
Yazılı Final Sınavı |
Ders kitapları ve materyaller: |
Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis [Hardcover] Joseph Goldstein , Dale E. Newbury , David C. Joy , Charles E. Lyman , Patrick Echlin , Eric Lifshin, Linda Sawyer, J.R. Michael Springer Science 2003 |
Önerilen kaynaklar: |
Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM21 Jul 2018 by R.F. Egerton |
|
* 15. ve 16. haftalar arası final sınavına hazırlık haftası bulunmaktadır.
|
|
|
|
Değerlendirme
|
|
|
Değerlendirme tipi |
Hafta numarası |
Ağırlık (%) |
|
Ara sınavlar (Vizeler): |
|
0 |
Dönem içi diğer çalışmalar: |
5-14 |
10 |
Proje: |
|
0 |
Ödev: |
3,5,7,9,11 |
20 |
Kısa sınav (Quiz): |
2-12 |
30 |
Final sınavı: |
16 |
40 |
|
Toplam ağırlık: |
(%) |
|
|
|
İş yükü
|
|
|
Etkinlik |
Süre (Haftalık saat) |
Toplam hafta sayısı |
Dönem boyu toplam iş yükü |
|
Dersler (Yüz yüze öğretme): |
3 |
14 |
|
Ders dışı bireysel çalışma: |
3 |
14 |
|
Uygulama, Rehberli problem çözme: |
3 |
2 |
|
Ödev: |
3 |
5 |
|
Dönem projesi: |
0 |
0 |
|
Dönem projesi sunumu: |
5 |
1 |
|
Kısa sınav (Quiz): |
2 |
11 |
|
Ara sınav için bireysel çalışma: |
0 |
0 |
|
Ara sınav (Vize): |
0 |
0 |
|
Final sınavı için bireysel çalışma: |
18 |
3 |
|
Final sınavı: |
2 |
1 |
|
|
|
Toplam işyükü: |
|
|
|
Toplam AKTS kredisi: |
* |
|
* AKTS kredisi, toplam iş yükünün 25'e bölümüdür. (1 AKTS = 25 saatlik iş yükü)
|
|
|
-->